MG2-DL系列超声波测厚仪

MG2-DL系列超声波测厚仪的性能：

包括MG2,MG2-XT和MG2-DL, 小巧、坚固耐用，操作简单，是测量有内部腐蚀的部件Z为理想的便携式测厚仪。测厚仪使用双晶探头,从被测物体的一面就可以测量被腐蚀、有凹痕、被氧化或呈粒状等其它较难测量物体的厚度。有多种探头可选。可对厚度在0.5mm--635mm之间,温度在-20C°--+500C°之间的物体进行测量。

产品型号：
厂商性质：生产厂家
更新时间：2024-03-11
访问量：1555

立即咨询

联系电话：0519-81194519

产品详情

MG2-DL系列超声波测厚仪的性能：

MG2-DL系列超声波测厚仪包括MG2,MG2-XT和MG2-DL, 小巧、坚固耐用，操作简单，是测量有内部腐蚀的部件zui为理想的便携式测厚仪。测厚仪使用双晶探头,从被测物体的一面就可以测量被腐蚀、有凹痕、被氧化或呈粒状等其它较难测量物体的厚度。有多种探头可选。可对厚度在0.5mm--635mm之间,温度在-20C°--+500C°之间的物体进行测量。

MG2基本型测厚仪的将操作简单、价格低廉和功能齐全三大优点融为一体. 并具有zui小/zui大值模式和冻结模式.两节AA5# 电池可工作250小时.

MG2-XT 除了具有MG2所有功能外, 增加了增益调整、自动灵敏度优化、回波-回波、穿透涂层、差值模式和高低报警功能。

MG2-DL 则在MG2-XT的基础上增加了数据存储能力。

MG2-DL系列超声波测厚仪的技术参数：

技术规格	MG2	MG2-XT	MG2-DL
显示屏	液晶显示（带背光）	液晶显示（带背光）	液晶显示（带背光）
测量范围	0.5---635mm	0.5---635mm	0.5---635mm
声速范围	0.762-13,999mm/μsec	0.762-13,999mm/μsec	0.762-13,999mm/μsec
显示精度	0.1/0.01mm	0.1/0.01mm	0.1/0.01mm
冻结模式	有	有	有
显示保留/	有	有	有
zui大/zui小值	有	有	有
探头自动识别	有	有	有
零位补偿	有	有	有
测量速度	2点/秒;20点/秒	2点/秒;20点/秒	2点/秒;20点/秒
工作温度	-10-50℃	-10-50℃	-10-50℃
测量温度	-20-500℃	-20-500℃	-20-500℃
增益调整	无	有	有
自动增益优化	无	有	有
回波回波	无	有	有
差分测量	无	有	有
穿透涂层	无	有	有
高低报警	无	有	有
数据存储	无	无	有（5000个厚度值）
USB接口	无	无	有
电池	AA 电池×3 工作125小时	AA 电池×3 工作125小时	AA 电池×3 工作125小时
外型尺寸	84 X 152.4 X 39.6mm	84 X 152.4 X 39.6mm	84 X 152.4 X 39.6mm
重量	0.34Kg	0.34Kg	0.34Kg

高温表面：
配用D790系列探头（D790、D790-SM、D790-RL、D790-SL）的Panametrics® MG2-XT型与Panametrics® MG2-DL型测厚仪，是稳定测量表面温度高达500ºC的材料厚度的理想仪器。MG2系列仪器的零位补偿功能通过补偿因热漂移引起的探头延迟线在温度上的变化，增加了在高温表面进行材料厚度测量的性。

标准配置：
MG2型数字超声测厚仪、手腕带、测试棒、耦合剂、用户手册、塑料携带箱（仅指Panametrics MG2-XT型和Panametrics MG2-DL型仪器）、2年有限担保。标准配置还包括
一个双晶探头。

选购附件：
2214E：5阶梯试块，美制单位。
2214M：5阶梯试块，公制单位。
MG/EW：延长担保。
MG2/RPC：橡胶保护套。
GageView：用于Panametrics MG2-DL的PC
机接口程序。
MG2/XTRETRO：
将Panametrics MG2型转换为
Panametrics MG2-XT型的转换器。
MG2XT/DLRETRO：
将Panametrics MG2-XT转换为
Panametrics MG2-DL型的转换器。
MG2/DLRETRO：
将Panametrics MG2型转换为
Panametrics MG2-DL型的转换器。
MG2/WF：带有波形调节的实时A扫描
仅用于Panametrics MG2-XT型与Panametrics
MG2-DL型仪器（不适用于
Panametrics MG2型仪器）。
USB/ADP-115：AC-115电源供应
USB/ADP-230：AC-230电源供应