MC-2000C涂（镀）层测厚仪

MC-2000C型涂（镀）层测厚仪是的结晶,它采用单片机技术，精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、无校正旋钮、单探头全量程测量、体积小、重量轻；且具有存储、读出、低电压指示、其性能达到当代同类仪器的水平。

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更新时间：2024-03-10
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MC-2000C型涂（镀）层测厚仪工作原理

MC--2000C型涂（镀）层测厚仪采用电磁感应法测量涂（镀）层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂（镀）层厚度。

MC-2000C型涂（镀）层测厚仪技术

1、测量范围： 0~5000μm

2、测量误差：　　<3%±1μm
3、zui小示值：　　1μm
4、显示方式： 4位液晶数字显示
5、主要功能：
(1).测量：　单探头全量程测厚
(2).存储：　可存入测量数据254个
(3).读：　　　读出已存入测量数据
(4).校正：随机标准试片校正
(5).打印：选配微型打印机
(6).背光：采用的EL自动背光
(7).关机：zui后一次测量后8分钟左右自动关机
6、电源：　　　 3.6v充电电池
7、功耗：　　　 zui大功耗100mw
8、外形尽寸：　　 50 ＊95 ＊24mm3
9、重量：　　　　　 90g
10、使用环境温度：　0℃~+40℃相对湿度：不大于90%
11、基体zui小厚度： 0.2mm
12、基体zui小平面： 7mm
13、zui小曲率半径：凸:1.5mm凹:6mm
14、欠电压指示：左下角显示＂欠＂
＊临界厚度小：工件铁基厚度大于1mm时,其涂（镀）层厚度的测量不受铁基厚度影响。